Fotografía arquitectónica · 3ª parte (3/4)
Principio de Scheimpflug
Con una cámara fija el plano del foco está paralelo a los planos del sensor y del objetivo. Los límites de campo de enfoque dependen de la apertura del diafragma y de la escala de la imagen y también están paralelos a los planos del sensor y del objetivo (imagen 5). Si el campo de enfoque no cubre todas las partes del motivo, éste sale parcialmente borroso en la foto.
Imagen 5: Con una cámara fija el plano del foco y los límites del campo de enfoque están paralelos a los planos del sensor y del objetivo. En este caso el plano de foco está a 55 cm del sensor y el campo de enfoque con la apertura f/22 se extiende de 44,3 cm a 72,5 cm y no cubre toda la maqueta. © Martin Opladen
Una cámara técnica o una cámara réflex con lentes especiales nos da la oportunidad de hacer ajustes según el principio Scheimpflug (nombrado así por el austríaco Theodor Scheimpflug) y mover el campo de enfoque en el espacio y aumentarlo sin cerrar la apertura del diafragma.
El principio de Scheimpflug dice que, si no están paralelos los planos de la imagen (sensor), del objetivo y del foco, se juntan en un solo eje (vea imagen 6). Así que con el basculamiento de la cámara se puede mover el plano del foco en el espacio. Con la inclinación del panel del objetivo se determina la posición del eje (en cuanto más inclinado el panel, más cerca está el eje de la cámara) y con el punto focal se determina la inclinación del plano del foco.
Con los ajustes según Scheimpflug el campo de enfoque tiene forma de cuña, empieza en el plano del foco perpendicularmente abajo del objetivo y su extensión asciende en la altura del eje óptico a los mismos valores como en la cámara fija (compara imágenes 5 y 6).
En el ejemplo dado el punto focal está a una distancia de 55cm del sensor en el eje óptico. Con la cámara fija el campo de enfoque se extiende de 44,3cm a 72,5cm y no cubre toda la maqueta (imagen 5). Con el basculamiento en la cámara técnica el campo de enfoque también llega de 44,3cm a 72,5cm en el eje óptico, pero en la base de la maqueta de 37,8cm a 75,6cm y cubre perfectamente toda la maqueta (imagen 6); un aumento del 33% comparado con la cámara fija.
Si tenemos una maqueta con un edificio alto en el primer plano, el basculamiento del panel del objetivo no llevaría a un resultado satisfactorio, ya que la parte alta de este edificio saldría de la cuña del campo de enfoque y quedaría borrosa en la foto. En este caso tendríamos que intentar tomar la foto o con menos inclinación del panel del objetivo o con los planos paralelos, si la maqueta no es demasiado profunda. Si no llegamos a un buen resultado ni con la una ni con la otra manera, tenemos que alejarnos del modelo para disminuir la escala de la imagen.
Imagen 6: Ajuste según Scheimpflug: Los planos del imagen (sensor), del objetivo y del foco siempre se juntan en un solo eje. La posición del eje depende de la inclinación del panel del objetivo. La inclinación del plano de foco depende del punto focal (55cm). La extensión del campo de enfoque en el eje óptico es la misma como la de la cámara fija (44,3cm – 72,5cm). El campo de enfoque es cuneiforme y empieza perpendicularmente abajo del centro óptico del objetivo. © Martin Opladen
Imagen 6: Foto de la maqueta. © Martin Opladen